Patente und Gebrauchsmuster einschl. Topografien und Ergänzende Schutzzertifikate
Der Basismodus ermöglicht eine Recherche - mit einfachen Suchabfragen - in den am häufigsten verwendeten Recherchefeldern.
Der Modus Erweitert ermöglicht eine Recherche in verschiedenen Recherchefeldern und eine individuelle Verknüpfung der ausgewählten Felder.
Die Verwendung des Expertenmodus empfiehlt sich, wenn Sie bereits Rechercheerfahrung haben. Hier können Sie auch komplexere Suchanfragen formulieren.
Das Monitoring ist geeignet zur Überwachung neu eingetragener Schutzrechte, die erstmalig in DPMAregister angezeigt werden. Die Überwachung können Sie mit den Suchkriterien "Anmelder/Inhaber"/"Erfinder" oder "IPC-Haupt-/Nebenklasse" durchführen. Eine Kombinationsabfrage aus den angegebenen Kriterien ist ebenfalls möglich.
Hierunter können Sie einzelne Ausgaben des Patentblattes abrufen.
Im Patentblatt-Online können Sie nach Jahr, Heft und Teil des Heftes recherchieren. Sie haben zusätzlich die Möglichkeit Ihre Trefferliste mit einer Filterkonfiguration weiter zu verfeinern.
Klassifikationen
Alle Patente, Gebrauchsmuster und Schutzzertifikate sind in IPC-Haupt- und Nebenklassen aufgeteilt. Nach diesen Klassen können Sie suchen.
