Patente und Gebrauchsmuster einschl. Topografien und Ergänzende Schutzzertifikate

Einsteigerrecherche
Der Einsteigermodus ermöglicht eine Basis-Recherche - mit einfachen Suchabfragen - in den am häufigsten verwendeten Recherchefeldern.
Expertenrecherche
Die Verwendung des Expertenmodus empfiehlt sich, wenn Sie bereits Rechercheerfahrung haben. Hier können Sie auch komplexere Suchanfragen formulieren.
Monitoring
Das Monitoring ist geeignet zur Überwachung neu eingetragener Schutzrechte, die erstmalig in DPMAregister angezeigt werden. Die Überwachung können Sie mit den Suchkriterien "Anmelder/Inhaber"/"Erfinder" oder "IPC-Haupt-/Nebenklasse" durchführen.
Patentblatt
Hierunter können Sie einzelne Ausgaben des Patentblattes abrufen.
PIZ-Unterstützung
Über den Modus "PIZ-Unterstützung" können Sie Anfragen an die Profis in den deutschen Patentinformationszentren senden. Sie erhalten die Antwort per E-Mail/Post/Fax.

Klassifikation

Internationale Patentklassifikation (IPC) einschließlich Deutscher Patent-Feinklassifikation (DEKLA)
Alle Patente, Gebrauchsmuster und Schutzzertifikate sind in IPC-Haupt- und Nebenklassen aufgeteilt. Nach diesen Klassen können Sie suchen.