Patente und Gebrauchsmuster einschl. Topografien und Ergänzende Schutzzertifikate

• Basisrecherche

  Der Basismodus ermöglicht eine Recherche - mit einfachen Suchabfragen - in den am häufigsten verwendeten Recherchefeldern.

• Erweiterte Recherche

  Der Modus Erweitert ermöglicht eine Recherche in verschiedenen Recherchefeldern und eine individuelle Verknüpfung der ausgewählten Felder.

• Expertenrecherche

  Die Verwendung des Expertenmodus empfiehlt sich, wenn Sie bereits Rechercheerfahrung haben. Hier können Sie auch komplexere Suchanfragen formulieren.

• Monitoring

  Das Monitoring ist geeignet zur Überwachung neu eingetragener Schutzrechte, die erstmalig in DPMAregister angezeigt werden. Die Überwachung können Sie mit den Suchkriterien "Anmelder/Inhaber"/"Erfinder" oder "IPC-Haupt-/Nebenklasse" durchführen. Eine Kombinationsabfrage aus den angegebenen Kriterien ist ebenfalls möglich.

• Patentblatt

  Hierunter können Sie einzelne Ausgaben des Patentblattes abrufen.

• PIZ-Unterstützung

  Über den Modus "PIZ-Unterstützung" können Sie Anfragen an die Profis in den deutschen Patentinformationszentren senden. Sie erhalten die Antwort per E-Mail/Post/Fax.

Klassifikation

• Internationale Patentklassifikation (IPC)

  Alle Patente, Gebrauchsmuster und Schutzzertifikate sind in IPC-Haupt- und Nebenklassen aufgeteilt. Nach diesen Klassen können Sie suchen.