DPMAregister | Patente - ST.27-Rechtsstandsdaten

ST.27-Rechtsstandsdaten

Die nachfolgend angezeigten Rechtsstandsinformationen basieren auf dem WIPO Standard ST.27 und sind rein informativ. Verbindliche Informationen zum Status des Schutzrechts sind nur über die Detailansicht im DPMAregister verfügbar. Dem WIPO Standard ST.27 entsprechend erfolgt die Darstellung der Inhalte nur auf Englisch.

Aktenzeichen DE: 103 26 223.7 (Bezeichnung/Titel: Verfahren zur Strukturierung dünner Schichten mittels optischer Lithographie und Anordnung zur Durchführung der optischen Lithographie)

↩ Detailansicht

Tabellarische Wiedergabe
Current State: Not active, Current Stage: Termination likely/termination

Key Event History
Nr.	Key Event Code	Key Event Name	Event Date	Effective Date	Publication Date	To Stage
1	A10	Application filed	11.06.2003	11.06.2003		Filing
2	D10	Search and/or examination requested or initiated	01.07.2003	01.07.2003		Examination
3	Q10	Document published	20.01.2005	20.01.2005	20.01.2005	Examination
4	Q10	Document published	31.07.2008	31.07.2008	31.07.2008	Examination
5	F10	IP right granted	31.10.2008	31.10.2008	29.01.2009	Grant
6	H10	IP right ceased	03.01.2012	03.01.2012	12.04.2012	Termination likely/termination

Detailed Event History
Nr.	Detailed Event Code	Detailed Event Name	Event Date	Effective Date	Publication Date	To Stage
1	A10	Application filed	11.06.2003	11.06.2003		Filing
2	D11	Substantive examination requested	01.07.2003	01.07.2003		Examination
3	Q12	Application published	20.01.2005	20.01.2005	20.01.2005	Examination
4	P22	Classification modified	17.10.2005	17.10.2005		Examination
5	D22	Grant of IP right intended	10.03.2008	10.03.2008		Examination
6	Q13	IP right document published	31.07.2008	31.07.2008	31.07.2008	Examination
7	F11	IP right granted following substantive examination	31.10.2008	31.10.2008	29.01.2009	Grant
8	H13	IP right lapsed	03.01.2012	03.01.2012	12.04.2012	Termination likely/termination

Grafische Wiedergabe

Nachfolgend wird eine vereinfacht grafische Repräsentation der Rechtsstandsinformationen basierend auf dem WIPO Standard ST.27 anhand des dort definierten "Overall Patent/SPC Prosecution Model" wiedergegeben.