Registerauskunft Patent

Aktenzeichen DE: 198 35 266.2 (Status: nicht anhängig/erloschen, Stand am: 25. April 2024)

Stammdaten
INIDKriteriumFeldInhalt
SchutzrechtsartSARTPatent
StatusSTNicht anhängig/erloschen
21Aktenzeichen DEDAKZ198 35 266.2
54Bezeichnung/TitelTIVerfahren zum Erfassen der Betriebstemperatur von Halbleiterbauelementen und dessen Verwendung
51IPC-HauptklasseICM
(ICMV)		 H01L 23/62 (2006.01)
51IPC-Nebenklasse(n)ICS
(ICSV)		 H01L 21/66 (2006.01)
22Anmeldetag DEDAT04.08.1998
43OffenlegungstagOT17.02.2000
Veröffentlichungstag der ErteilungPET13.05.2004
71/73Anmelder/InhaberINHInfineon Technologies AG, 81669 München, DE
72ErfinderINSauter, Martin, Dr., 81673 München, DE
10Veröffentlichte DE-DokumenteDEPNOriginaldokument: DE000019835266A1
Recherchierbarer Text: DE000019835266A1
Originaldokument: DE000019835266B4
Recherchierbarer Text: DE000019835266B4
Zustellanschrift Infineon Technologies AG Intellectual Property, 80506 München, DE
Zuständige Patentabteilung 33
57ZusammenfassungABDie Erfindung betrifft ein Meßverfahren zum Erfassen einer Betriebstemperatur eines Halbleiterbauelements, das ein Halbleitersubstrat mit mehreren unterschiedlich dotierten Bereichen umfaßt, die für die Funktion des Halbleiterbauelements erforderlich sind.$A Um eine Temperaturmessung in einem Bauelement ohne zusätzlichen schaltungstechnischen Aufwand schnell und zuverlässig zu ermöglichen, wird vorgeschlagen, einen Sperrstrom durch einen in Sperrichtung betriebenen Halbleiterübergang zwischen zwei der unterschiedlich dotierten Bereiche (6, 8; 10, 11; 15, 17) zu erfassen und die Betriebstemperatur des Halbleiters in Abhängigkeit von dem erfaßten Sperrstrom zu ermitteln.
56Entgegenhaltungen/ZitateCT DE000019652046A1 (DE 196 52 046 A1)
56Entgegenhaltungen/Zitate NPLCTNPIBM Technical Disclosure Bull., Vol. 36, No. 08, Aug. 1993, S. 489-491;
Laborübung 3 der HTA Biel, CH
43ErstveröffentlichungstagEVT17.02.2000
Anzahl der Bescheide 3
Anzahl der Erwiderungen 2
Erstmalige Übernahme in DPMAregisterEREGT25.05.2011
Tag der (letzten) Aktualisierung in DPMAregisterREGT25.05.2016
(alle Aktualisierungstage einblenden)(alle Aktualisierungstage ausblenden)25.05.2011; 31.05.2011; 31.05.2011; 17.07.2011; 06.09.2011; 28.10.2011; 04.01.2012; 05.09.2012; 20.10.2012; 21.01.2013; 11.09.2013; 30.10.2013; 10.09.2014; 06.11.2014; 09.09.2015; 19.04.2016; 25.05.2016
Verfahrensdaten
Nr. Verfahrensart Verfahrensstand Verfahrensstandstag Verfahrensstandstag aufsteigend sortiert Erstveröffentlichungstag Alle Details anzeigen
1 Vorverfahren Die Anmeldung befindet sich in der Vorprüfung 04.08.1998   Details anzeigen
2 Prüfungsverfahren Prüfungsantrag wirksam gestellt 19.08.1998   Details anzeigen
3 Vorverfahren Das Vorverfahren ist abgeschlossen 19.10.1998   Details anzeigen
4 Klassifikationsänderung Änderung der IPC-Hauptklasse 09.10.1999   Details anzeigen
5 Klassifikationsänderung Änderung der IPC-Hauptklasse 15.11.1999   Details anzeigen
6 Publikationen Offenlegungsschrift 17.02.2000 17.02.2000 Details anzeigen
7 Anmelder-/Inhaberänderung Änderung des Anmelders/Inhabers 14.01.2002 21.03.2002 Details anzeigen
8 Prüfungsverfahren Erwiderung auf Prüfungsbescheid 21.11.2003   Details anzeigen
9 Prüfungsverfahren Erteilungsbeschluss durch Prüfungsstelle/Patentabteilung 18.12.2003   Details anzeigen
10 Publikationen Patentschrift 13.05.2004 13.05.2004 Details anzeigen
11 Prüfungsverfahren Patent rechtskräftig erteilt 13.08.2004 11.11.2004 Details anzeigen
12 Klassifikationsänderung Änderung der IPC-Hauptklasse 17.10.2005   Details anzeigen
13 Verwaltungsverfahren Die Anmeldung gilt als zurückgenommen wegen Nichtzahlung der Jahresgebühr/das Schutzrecht ist wegen Nichtzahlung der Jahresgebühr erloschen 01.03.2016 25.05.2016 Details anzeigen