Registerauskunft Patent

Aktenzeichen DE: 10 2013 205 255.3 (Status: anhängig/in Kraft, Stand am: 2. Juli 2022)

Stammdaten
INIDKriteriumFeldInhalt
SchutzrechtsartSARTPatent
StatusSTAnhängig/in Kraft
21Aktenzeichen DEDAKZ10 2013 205 255.3
54Bezeichnung/TitelTIDigitaler Temperatursensor
51IPC-HauptklasseICM
(ICMV)
G01K 7/00 (2006.01)
51IPC-Nebenklasse(n)ICS
(ICSV)
G01K 7/01 (2006.01)
22Anmeldetag DEDAT26.03.2013
43OffenlegungstagOT02.10.2014
Veröffentlichungstag der ErteilungPET02.11.2017
71/73Anmelder/InhaberINHInstitut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gGmbH, 98693 Ilmenau, DE
72ErfinderINTan, Jun, 99099 Erfurt, DE;
74VertreterVTRMeissner Bolte Patentanwälte Rechtsanwälte Partnerschaft mbB, 07545 Gera, DE
10Veröffentlichte DE-DokumenteDEPNOriginaldokument: DE102013205255A1PDF
Recherchierbarer Text: DE102013205255A1PDF
Originaldokument: DE102013205255B4PDF
Recherchierbarer Text: DE102013205255B4PDF
Zustellanschrift Meissner Bolte Patentanwälte Rechtsanwälte Partnerschaft mbB, 07545 Gera, DE
LizenzLIZLizenzbereitschaftserklärung vorhanden
FälligkeitFT
FG
31.03.2023
Jahresgebühr für das 11. Jahr
Zuständige Patentabteilung 52
56Entgegenhaltungen/ZitateCTEP000002270453A1 (EP 2 270 453 A1)PDF
EP000002182335A2 (EP 2 182 335 A2)PDF
56Entgegenhaltungen/Zitate NPLCTNPSHIH, Yi-Chun ; SHEN, Tueng ; OTIS, Brian P.: A 2.3 [mu] W wireless intraocular pressure/temperature monitor. In: IEEE Journal of Solid-State Circuits (J-SSC). 2011, Bd. 46, H. 11, S. 2592-2601. ISSN 0018-9200 (p); 1558-173X (e). DOI: 10.1109/JSSC.2011.2164134. URL: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=6019016 [abgerufen am 23.03.2017]. Bibliographieinformationen ermittelt über: http://ieeexplore.ieee.org/document/6019016/ [abgerufen am 23.03.2017].;
LAW, Man Kay ; BERMAK, Amine ; LUONG, Howard C.: A sub-[mu] W embedded CMOS temperature sensor for RFID food monitoring application. In: IEEE Journal of Solid-State Circuits (J-SSC). 2010, Bd. 45, H. 6, S. 1246-1255. ISSN 0018-9200 (p); 1558-173X (e). DOI: 10.1109/JSSC.2010.2047456. URL: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=5482527 [abgerufen am 23.03.2017]. Bibliographieinformationen ermittelt über: http://ieeexplore.ieee.org/document/5482527/ [abgerufen am 23.03.2017].;
CHEN, Poki [u.a.]: A time-domain SAR smart temperature sensor with curvature compensation and a 3 [sigma] inaccuracy of 0.4[deg.]C 0.6[deg.]C over a 0[deg.]C to 90[deg.]C range. In: IEEE Journal of Solid-State Circuits (J-SSC). 2010, Bd. 45, H. 3, S. 600-609. ISSN 0018-9200 (p); 1558-173X (e). DOI: 10.1109/JSSC.2010.2040658. URL: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=5419184 [abgerufen am 23.03.2017]. Bibliographieinformationen ermittelt über: http://ieeexplore.ieee.org/document/5419184/ [abgerufen am 23.03.2017].;
YIN, Jun [u.a.]: A system-on-chip EPC Gen-2 passive UHF RFID tag with embedded temperature sensor. In: IEEE Journal of Solid-State Circuits (J-SSC). 2010, Bd. 45, H. 11, S. 2404-2420. ISSN 0018-9200 (p); 1558-173X (e). DOI: 10.1109/JSSC.2010.2072631. URL: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=5593894 [abgerufen am 23.03.2017]. Bibliographieinformationen ermittelt über: http://ieeexplore.ieee.org/document/5593894/ [abgerufen am 23.03.2017].;
SOURI, Kamran ; MAKINWA, Kofi A. A.: A 0.12 mm<2> 7.4 [mu] W micropower temperature sensor with an inaccuracy of +-0.2[deg.]C (3[sigma]) from -30[deg.]C to 125[deg.]C. In: IEEE Journal of Solid-State Circuits (J-SSC). 2011, Bd. 46, H. 7, S. 1693 - 1700. ISSN 0018-9200 (p); 1558-173X (e). DOI: 10.1109/JSSC.2011.2144290. URL: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=5772034 [abgerufen am 23.03.2017]. Bibliographieinformationen ermittelt über: http://ieeexplore.ieee.org/document/5772034/ [abgerufen am 23.03.2017].;
LIN, Yu-Shiang ; SYLVESTER, Dennis ; BLAAUW, David: An ultra low power 1 V, 220 nW temperature sensor for passive wireless applications. In: Custom Integrated Circuits Conference, 2008. CICC 2008. IEEE. 2008, S. 507-510. ISBN 978-1-4244-2018-6. DOI: 10.1109/CICC.2008.4672133. URL: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=4672133 [abgerufen am 23.03.2017].;
WOO, Kyoungho [u.a.]: Dual-DLL-based CMOS all-digital temperature sensor for microprocessor thermal monitoring. In: Solid-State Circuits Conference - Digest of Technical Papers, 2009. ISSCC 2009. IEEE International. 2009, S. 68 - 69 ; 69a. ISBN 978-1-4244-3458-9. DOI: 10.1109/ISSCC.2009.4977311. URL: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=4977311 [abgerufen am 23.03.2017]. Bibliographieinformationen ermittelt über: http://ieeexplore.ieee.org/document/4977311/ [abgerufen am 23.03.2017].;
PERTIJS, M. A. P. ; MAKINWA, K. A. A. ; HUIJSING, J. H.: A CMOS smart temperature sensor with a 3 [sigma] inaccuracy of +-0.1[deg.]C from -55[deg.]C to 125[deg.]C. In: IEEE Journal of Solid-State Circuits (J-SSC). 2005, Bd. 40, H. 12, S. 2805-2815. ISSN 0018-9200 (p); 1558-173X (e). DOI: 10.1109/JSSC.2005.858476. URL: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=1546255 [abgerufen am 23.03.2017]. Bibliographieinformationen ermittelt über: http://ieeexplore.ieee.org/document/1546255/ [abgerufen am 23.03.2017].
43ErstveröffentlichungstagPUB02.10.2014
Anzahl der Bescheide 1
Anzahl der Erwiderungen 1
Tag der ersten Übernahme in DPMAregisterEREGT02.10.2014
Tag der (letzten) Aktualisierung in DPMAregisterREGT08.04.2022
(alle Aktualisierungstage einblenden)(alle Aktualisierungstage ausblenden)02.10.2014; 16.04.2015; 18.12.2015; 28.01.2016; 09.04.2016; 15.07.2016; 28.03.2017; 29.03.2017; 11.04.2017; 15.07.2017; 18.07.2017; 19.07.2017; 02.11.2017; 11.04.2018; 01.09.2018; 11.10.2018; 09.04.2019; 09.04.2020; 13.04.2021; 08.04.2022
Verfahrensdaten
Nr. Verfahrensart Verfahrensstand Verfahrensstandstag Verfahrensstandstag aufsteigend sortiert Veröffentlichungsdatum Alle Details anzeigen
1 Vorverfahren Die Anmeldung befindet sich in der Vorprüfung 26.03.2013   Details anzeigen
2 Vorverfahren Das Vorverfahren ist abgeschlossen 12.06.2013   Details anzeigen
3 Prüfungsverfahren Prüfungsantrag wirksam gestellt 06.03.2014   Details anzeigen
4 Publikationen Offenlegungsschrift 02.10.2014 02.10.2014 Details anzeigen
5 Lizenz Lizenzbereitschaft erklärt 14.12.2015 28.01.2016 Details anzeigen
6 Prüfungsverfahren Prüfungsbescheid 28.03.2017   Details anzeigen
7 Prüfungsverfahren Erwiderung auf Prüfungsbescheid 13.07.2017   Details anzeigen
8 Prüfungsverfahren Erteilungsbeschluss durch Prüfungsstelle/Patentabteilung 18.07.2017   Details anzeigen
9 Publikationen Patentschrift 02.11.2017 02.11.2017 Details anzeigen
10 Prüfungsverfahren Patent rechtskräftig erteilt 03.08.2018 11.10.2018 Details anzeigen