Stammdaten| INID | Kriterium | Feld | Inhalt |
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| Schutzrechtsart | SART | Patent |
| Status | ST | Nicht anhängig/erloschen |
| 21 | Aktenzeichen DE | DAKZ | 10 2005 042 809.6 |
| 54 | Bezeichnung/Titel | TI | Aktive Messeinrichtung, insbesondere Sekundärionen-Massenspektrometer |
| 51 | IPC-Hauptklasse | ICM
(ICMV) | H01J 49/14 (2006.01) |
| 22 | Anmeldetag DE | DAT | 08.09.2005 |
| 43 | Offenlegungstag | OT | 15.03.2007 |
| Veröffentlichungstag der Erteilung | PET | 11.12.2008 |
| 71/73 | Anmelder/Inhaber | INH | Helmholtz-Zentrum Potsdam Deutsche GeoForschungsZentrum- GFZ, Stiftung des öffentlichen Rechts, 14473 Potsdam, DE |
| 72 | Erfinder | IN | Wiedenbeck, Michael, Dr., 14467 Potsdam, DE; Rhede, Dieter, Dr., 14469 Potsdam, DE |
| 74 | Vertreter | VTR | v. Bezold & Partner Patentanwälte - PartG mbB, 80799 München, DE |
| 10 | Veröffentlichte DE-Dokumente | DEPN | Originaldokument:
DE102005042809A1
Recherchierbarer Text:
DE102005042809A1
Originaldokument:
DE102005042809B4
Recherchierbarer Text:
DE102005042809B4 |
| Zustellanschrift | | v. Bezold & Partner Patentanwälte - PartG mbB, 80799 München, DE |
| Zuständige Patentabteilung | | 54 |
| 57 | Zusammenfassung | AB | Die Erfindung betrifft eine aktive Messeinrichtung (1), insbesondere eine Sekundär-Ion-Massenspektrometer, mit einer Vakuumkammer (10) zur Aufnahme einer zu untersuchenden Probe (4). Es wird vorgeschlagen, dass in der Vakuumkammer (10) ein Gettermaterial angeordnet wird, das aus der Vakuumkammer (10) Restgasgehalte aufnimmt und dadurch das Vakuum in der Vakuumkammer (10) in Probennähe verbessert, was zu einer Erhöhung der Messgenauigkeit und zur Verringerung der erforderlichen Messdauer beiträgt. |
| 56 | Entgegenhaltungen/Zitate | CT |
DE000069817775T2 (DE 698 17 775 T2)
DE000069132441T2 (DE 691 32 441 T2)
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| 56 | Entgegenhaltungen/Zitate NPL | CTNP | Castaing R., Slodzian, G: "Microanalyse par emission ionique secondaire", J. Micros., 1, 395-410 (1962);
Wiedenbeck,M. et al: "Cryogenic SIMS and its applications in the earth sciences", Appl. Surface Science 231-232, (2004), 888-892;
Edelmann,C. Vakuumphysik, Spektrum Akademischer Verlag, 1998, S. 204-208 |
| 43 | Erstveröffentlichungstag | EVT | 15.03.2007 |
| Anzahl der Bescheide | | 2 |
| Anzahl der Erwiderungen | | 2 |
| Erstmalige Übernahme in DPMAregister | EREGT | 27.05.2011 |
| Tag der (letzten) Aktualisierung in DPMAregister | REGT | 23.01.2016
(alle Aktualisierungstage einblenden)(alle Aktualisierungstage ausblenden)27.05.2011; 17.07.2011; 05.10.2011; 18.11.2011; 09.10.2012; 22.11.2012; 27.01.2013; 08.10.2013; 17.01.2014; 04.02.2014; 16.05.2014; 18.06.2014; 23.01.2016 |
