Registerauskunft Patent

Aktenzeichen DE: 10 2005 042 809.6 (Status: nicht anhängig/erloschen, Stand am: 4. Juli 2022)

Stammdaten
INIDKriteriumFeldInhalt
SchutzrechtsartSARTPatent
StatusSTNicht anhängig/erloschen
21Aktenzeichen DEDAKZ10 2005 042 809.6
54Bezeichnung/TitelTIAktive Messeinrichtung, insbesondere Sekundärionen-Massenspektrometer
51IPC-HauptklasseICM
(ICMV)
H01J 49/14 (2006.01)
22Anmeldetag DEDAT08.09.2005
43OffenlegungstagOT15.03.2007
Veröffentlichungstag der ErteilungPET11.12.2008
71/73Anmelder/InhaberINHHelmholtz-Zentrum Potsdam Deutsche GeoForschungsZentrum- GFZ, Stiftung des öffentlichen Rechts, 14473 Potsdam, DE
72ErfinderINWiedenbeck, Michael, Dr., 14467 Potsdam, DE; Rhede, Dieter, Dr., 14469 Potsdam, DE;
74VertreterVTRv. Bezold & Partner Patentanwälte - PartG mbB, 80799 München, DE
10Veröffentlichte DE-DokumenteDEPNOriginaldokument: DE102005042809A1PDF
Recherchierbarer Text: DE102005042809A1PDF
Originaldokument: DE102005042809B4PDF
Recherchierbarer Text: DE102005042809B4PDF
Zustellanschrift v. Bezold & Partner Patentanwälte - PartG mbB, 80799 München, DE
Zuständige Patentabteilung 54
57ZusammenfassungABDie Erfindung betrifft eine aktive Messeinrichtung (1), insbesondere eine Sekundär-Ion-Massenspektrometer, mit einer Vakuumkammer (10) zur Aufnahme einer zu untersuchenden Probe (4). Es wird vorgeschlagen, dass in der Vakuumkammer (10) ein Gettermaterial angeordnet wird, das aus der Vakuumkammer (10) Restgasgehalte aufnimmt und dadurch das Vakuum in der Vakuumkammer (10) in Probennähe verbessert, was zu einer Erhöhung der Messgenauigkeit und zur Verringerung der erforderlichen Messdauer beiträgt.
56Entgegenhaltungen/ZitateCTDE000069817775T2 (DE 698 17 775 T2)PDF
DE000069132441T2 (DE 691 32 441 T2)PDF
56Entgegenhaltungen/Zitate NPLCTNPCastaing R., Slodzian, G: "Microanalyse par emission ionique secondaire", J. Micros., 1, 395-410 (1962);
Wiedenbeck,M. et al: "Cryogenic SIMS and its applications in the earth sciences", Appl. Surface Science 231-232, (2004), 888-892;
Edelmann,C. Vakuumphysik, Spektrum Akademischer Verlag, 1998, S. 204-208
43ErstveröffentlichungstagPUB15.03.2007
Anzahl der Bescheide 2
Anzahl der Erwiderungen 2
Tag der ersten Übernahme in DPMAregisterEREGT27.05.2011
Tag der (letzten) Aktualisierung in DPMAregisterREGT23.01.2016
(alle Aktualisierungstage einblenden)(alle Aktualisierungstage ausblenden)27.05.2011; 17.07.2011; 05.10.2011; 18.11.2011; 09.10.2012; 22.11.2012; 27.01.2013; 08.10.2013; 17.01.2014; 04.02.2014; 16.05.2014; 18.06.2014; 23.01.2016
Verfahrensdaten
Nr. Verfahrensart Verfahrensstand Verfahrensstandstag Verfahrensstandstag aufsteigend sortiert Veröffentlichungsdatum Alle Details anzeigen
1 Vorverfahren Die Anmeldung befindet sich in der Vorprüfung 08.09.2005   Details anzeigen
2 Prüfungsverfahren Prüfungsantrag wirksam gestellt 08.09.2005   Details anzeigen
3 Klassifikationsänderung Änderung der IPC-Hauptklasse 17.10.2005   Details anzeigen
4 Vorverfahren Das Vorverfahren ist abgeschlossen 23.01.2006   Details anzeigen
5 Publikationen Offenlegungsschrift 15.03.2007 15.03.2007 Details anzeigen
6 Klassifikationsänderung Änderung der IPC-Hauptklasse 22.01.2008   Details anzeigen
7 Prüfungsverfahren Erwiderung auf Prüfungsbescheid 21.02.2008   Details anzeigen
8 Prüfungsverfahren Erteilungsbeschluss durch Prüfungsstelle/Patentabteilung 23.07.2008   Details anzeigen
9 Publikationen Patentschrift 11.12.2008 11.12.2008 Details anzeigen
10 Prüfungsverfahren Patent rechtskräftig erteilt 11.03.2009 04.06.2009 Details anzeigen
11 Anmelder-/Inhaberänderung Änderung des Anmelders/Inhabers 25.05.2009 30.07.2009 Details anzeigen
12 Verwaltungsverfahren Die Anmeldung gilt als zurückgenommen wegen Nichtzahlung der Jahresgebühr/das Schutzrecht ist wegen Nichtzahlung der Jahresgebühr erloschen 01.04.2014 18.06.2014 Details anzeigen