Registerauskunft Patent

Aktenzeichen DE: 100 52 721.3 (Status: nicht anhängig/erloschen, Stand am: 18. April 2024)

Stammdaten
INIDKriteriumFeldInhalt
SchutzrechtsartSARTPatent
StatusSTNicht anhängig/erloschen
21Aktenzeichen DEDAKZ100 52 721.3
54Bezeichnung/TitelTIIntegrierte Schaltung und Verfahren zum Testen einer integrierten Schaltung
51IPC-HauptklasseICM
(ICMV)
G01R 31/3183 (2006.01)
22Anmeldetag DEDAT24.10.2000
43OffenlegungstagOT07.06.2001
Veröffentlichungstag der ErteilungPET22.11.2012
71/73Anmelder/InhaberINHSemiconductor Technology Academic Research Center, Tokio/Tókyó, JP
72ErfinderINFujiwara, Hideo, Kyoto, JP; Masuzawa, Toshimitsu, Hyogo, JP; Ohtake, Satoshi, Ikoma, Nara, JP
74VertreterVTRadvotec. Patent- und Rechtsanwälte, 80538 München, DE
10Veröffentlichte DE-DokumenteDEPNOriginaldokument: DE000010052721A1
Recherchierbarer Text: DE000010052721A1
Originaldokument: DE000010052721B4
Recherchierbarer Text: DE000010052721B4
Zustellanschrift advotec. Patent- und Rechtsanwälte, 80538 München, DE
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32
Ausländische PrioritätPRC
PRNA
PRDA
JP
11-310972
01.11.1999
Zuständige Patentabteilung 35
57ZusammenfassungABEin Testcontroller hat einen Testplangenerator zur Erzeugung eines Testplanes für einen Datenpfad, der so ausgelegt ist, daß er eine festgelegte Kontrolltestfähigkeit hat, wobei der Testplan aus drei Phasen besteht, das heißt, aus einer Zuführung des Testvektors an einen Dateneingang, der Ausführung eines Testes und der Ableitung eines Ausgangs-Antwortsignals, in jedem einem Test zu unterwerfenden Modul vorhanden ist. Die integrierte Schaltung ist somit in der Lage, einen Testplan als Zeitserie eines Kontrollsignals an einen Kontrolleingang eines Datenpfades zuzuführen, die Testdurchführungszeit zu verkürzen und den Testplan mit normaler Betriebsgeschwindigkeit der Schaltung zu erzeugen, so daß ein Test mit der tatsächlichen Betriebsgeschwindigkeit durchgeführt werden kann.
56Entgegenhaltungen/ZitateCT EP000000921406A2 (EP 0 921 406 A2)
56Entgegenhaltungen/Zitate NPLCTNPMASUZAWA,T., WADA,H., SALUJA,K.K., FUJIWARA, H.: A Non-Scan DFT Method for RTL Data Paths To Archieve Complete Fault Efficiency. In: Information Science Technical Report TR980009, Nara Institute of Science and Technology, Japan, Juli 1998;
GHOSH,I., RAGHUNATHAN,A., JHA,N.K.: A Design for Testability Technique for RTL Circuits Using Control/Data Flow Extraction. In: IEEE/ACM Internat. Conference on Computer-Aided Design ICCAD-96, San Jose, 1996, S. 329-336
43ErstveröffentlichungstagEVT07.06.2001
Anzahl der Bescheide 2
Anzahl der Erwiderungen 1
Erstmalige Übernahme in DPMAregisterEREGT26.05.2011
Tag der (letzten) Aktualisierung in DPMAregisterREGT03.08.2017
(alle Aktualisierungstage einblenden)(alle Aktualisierungstage ausblenden)26.05.2011; 17.07.2011; 05.11.2011; 13.01.2012; 17.02.2012; 24.02.2012; 29.09.2012; 06.11.2012; 20.11.2012; 22.11.2012; 27.11.2012; 22.01.2013; 23.02.2013; 05.03.2013; 04.04.2013; 11.04.2013; 09.05.2013; 29.05.2013; 25.06.2013; 02.08.2013; 14.08.2013; 27.02.2014; 20.01.2016; 03.08.2017
Verfahrensdaten
Nr. Verfahrensart Verfahrensstand Verfahrensstandstag Verfahrensstandstag aufsteigend sortiert Erstveröffentlichungstag Alle Details anzeigen
1 Vorverfahren Die Anmeldung befindet sich in der Vorprüfung 24.10.2000   Details anzeigen
2 Prüfungsverfahren Prüfungsantrag wirksam gestellt 16.11.2000   Details anzeigen
3 Vorverfahren Das Vorverfahren ist abgeschlossen 14.12.2000   Details anzeigen
4 Publikationen Offenlegungsschrift 07.06.2001 07.06.2001 Details anzeigen
5 Klassifikationsänderung Änderung der IPC-Hauptklasse 17.10.2005   Details anzeigen
6 Prüfungsverfahren Prüfungsbescheid 06.03.2007   Details anzeigen
7 Prüfungsverfahren Zurückweisungsbeschluss im Prüfungs-/Schutzzertifikats-/Eintragungsverfahren 18.04.2007   Details anzeigen
8 Prüfungsverfahren Beschwerde ist eingegangen 04.05.2007   Details anzeigen
9 Prüfungsverfahren Akte beim BPatG anhängig 23.05.2007   Details anzeigen
10 Verwaltungsverfahren Erteilungsbeschluss durch BPatG 17.01.2012   Details anzeigen
11 Publikationen Patentschrift 22.11.2012 22.11.2012 Details anzeigen
12 Prüfungsverfahren Patent rechtskräftig erteilt 23.02.2013 29.05.2013 Details anzeigen
13 Verwaltungsverfahren Die Anmeldung gilt als zurückgenommen wegen Nichtzahlung der Jahresgebühr/das Schutzrecht ist wegen Nichtzahlung der Jahresgebühr erloschen 01.05.2013 14.08.2013 Details anzeigen