StammdatenINID | Kriterium | Feld | Inhalt |
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| Datenbestand | DB | DE |
111 | Registernummer | RN | 800740 |
210 | Altes Aktenzeichen | AKZ | L12830 |
540 | Markendarstellung | MD | ORTHOPLAN |
550 | Markenform | MF | Wortmarke |
551 | Markenkategorie | MK | Individualmarke |
220 | Anmeldetag | AT | 07.01.1965 |
442 | Tag der Bekanntmachung | BT | 31.03.1965 |
151 | Tag der Eintragung im Register | ET | 17.02.1965 |
156 | Verlängerung der Schutzdauer | VBD | 01.02.1995 |
730 | Inhaber | INH | Leica Microsystems Wetzlar GmbH, 35578 Wetzlar, DE |
750 | Zustellanschrift | ZAN | Leica Microsystems AG Corporate Patents + Trademarks Department, Ernst-Leitz-Str. 17-37, 35578 Wetzlar |
511 | Klasse(n) | KL | 9 |
141 | Löschdatum | LOED | 15.11.2005 |
| Aktenzustand | AST | Akte vernichtet |
180 | Schutzendedatum | VED | 31.01.2005
Gebühren für Markenschutzrechte |
111 151 | Internationale Registrierung | | Internationale Registrierungsnummer: IR299634 Registrierungsdatum: 07.07.1965 |
111 151 | Internationale Registrierung | | Internationale Registrierungsnummer: IR494111 Registrierungsdatum: 04.05.1985 |
450 | Tag der Veröffentlichung | VT | 15.04.1965 |
| Beginn Widerspruchsfrist | BWT | 15.04.1965 |
| Ablauf Widerspruchsfrist | EWT | 15.07.1965 |
510 | Waren/Dienstleistungen | WDV | Klasse(n) 09: Mikroskope; Objektive und Okulare für Mikroskope, Mikroskop-Heiz- und -Kühltische; mikrophotographische Apparate, Mikroprojektionsapparate; Mikromanipulatoren; Lupen, Prismenlupen, Fernrohrlupen; Mikrotome; Elektronenmikroskope
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| Erstmalige Übernahme in DPMAregister | EREGT | 01.10.2012 |
| Tag der (letzten) Aktualisierung in DPMAregister | REGT | 18.11.2019 (alle Aktualisierungstage einblenden)(alle Aktualisierungstage ausblenden)01.10.2012; 20.10.2012; 18.11.2019 |