Patente und Gebrauchsmuster einschl. Topografien und Ergänzende Schutzzertifikate

Patentblatt
Hierunter können Sie einzelne Ausgaben des Patentblattes abrufen.
Einsteigerrecherche
Der Einsteigermodus ermöglicht eine Basis-Recherche - mit einfachen Suchabfragen - in den am häufigsten verwendeten Recherchefeldern.
Monitoring
Das Monitoring ist geeignet zur Überwachung neu eingetragener Schutzrechte, die erstmalig in DPMAregister angezeigt werden. Die Überwachung können Sie mit den Suchkriterien "Anmelder/Inhaber"/"Erfinder" oder "IPC-Haupt-/Nebenklasse" durchführen.
Expertenrecherche
Die Verwendung des Expertenmodus empfiehlt sich, wenn Sie bereits Rechercheerfahrung haben. Hier können Sie auch komplexere Suchanfragen formulieren.
PIZ-Unterstützung
Über den Modus "PIZ-Unterstützung" können Sie Anfragen an die Profis in den deutschen Patentinformationszentren senden. Sie erhalten die Antwort per E-Mail/Post/Fax.
DPMAkurier
Überwachung von Schutzrechten. Außerdem können Sie sich das Patentblatt zu jedem Veröffentlichungstermin entweder vollständig oder einzelne Teile daraus zusenden lassen. Sie werden per E-Mail benachrichtigt.

Klassifikation

Internationale Patentklassifikation (IPC) einschließlich Deutscher Patent-Feinklassifikation (DEKLA)
Alle Patente, Gebrauchsmuster und Schutzzertifikate sind in IPC-Haupt- und Nebenklassen aufgeteilt. Nach diesen Klassen können Sie suchen.