Registerauskunft Patent

Aktenzeichen DE: 10 2008 013 068.0 (Status: anhängig/in Kraft, Stand am: 25. April 2024)

Stammdaten
INIDKriteriumFeldInhalt
SchutzrechtsartSARTPatent
StatusSTAnhängig/in Kraft
21Aktenzeichen DEDAKZ10 2008 013 068.0
54Bezeichnung/TitelTIVerfahren und Vorrichtung zur ortsaufgelösten Bestimmung von Ladungsträgerlebensdauern in Halbleiterstrukturen
51IPC-HauptklasseICM
(ICMV)		 G01R 31/26 (2006.01)
51IPC-Nebenklasse(n)ICS
(ICSV)		 G01N 21/17 (2006.01), G01N 21/63 (2006.01)
22Anmeldetag DEDAT06.03.2008
43OffenlegungstagOT10.09.2009
Veröffentlichungstag der ErteilungPET21.06.2012
71/73Anmelder/InhaberINHInstitut für Solarenergieforschung GmbH, 31860 Emmerthal, DE
72ErfinderINRamspeck, Klaus, 31785 Hameln, DE
74VertreterVTRQip Patentanwälte, Dr. Kuehn & Partner mbB, 80336 München, DE
10Veröffentlichte DE-DokumenteDEPNOriginaldokument: DE102008013068A1
Recherchierbarer Text: DE102008013068A1
Originaldokument: DE102008013068B4
Recherchierbarer Text: DE102008013068B4
Zustellanschrift Qip Patentanwälte, Dr. Kuehn & Partner mbB, 80336 München, DE
FälligkeitFT
FG		31.03.2025
Jahresgebühr für das 18. Jahr Gebühren für Patentschutz
Zuständige Patentabteilung 35
57ZusammenfassungABEs werden ein Verfahren und eine Vorrichtung zur ortsaufgelösten Bestimmung einer lokalen Ladungsträgerlebensdauer in einer Halbleiterstruktur vorgeschlagen. Überschussladungsträger werden in der Halbleiterstruktur (1) innerhalb eines vorgebbaren Anregungszeitintervalls beispielsweise mit Hilfe einer Lichtquelle (7) erzeugt. Für eine Mehrzahl von Teiloberflächen der Halbleiterstruktur werden gleichzeitig jeweils ortsabhängige erste Messwerte S1 und zweite Messwerte S2 durch Aufintegrieren von einer Konzentration der Überschussladungsträger abhängigen Messsignalen innerhalb jeweils eines ersten bzw. zweiten Zeitintervalls bestimmt, wobei das erste Zeitintervall vor dem zweiten Zeitintervall endet. Durch In-Relationsetzen der jeweiligen ersten Messwerte S1 mit den jeweiligen zweiten Messwerten S2 für jede der Teiloberflächen kann der jeweilige Wert einer lokalen Ladungsträgerlebensdauer für jede der Teiloberflächen ermittelt werden. Das erfindungsgemäße Verfahren erlaubt eine schnelle ortsaufgelöste Bestimmung der lokalen Ladungsträgerlebensdauer und erfordert keine vorhergehende Kalibrierung.
56Entgegenhaltungen/ZitateCT DE000019915051C2 (DE 199 15 051 C2)
DE000010056770A1 (DE 100 56 770 A1)
US000005153503A (US 5 153 503 A)
56Entgegenhaltungen/Zitate NPLCTNPTHE M., SCHUBERT M.C. und WARTA W.: Quantitative lifetime measurements with photoluminescence imaging. In: Proc. of the 22nd European Photovoltaic Solar Energy Conference, Mailand, 3-7 Sept. 2007, S. 354-359
43ErstveröffentlichungstagEVT10.09.2009
Anzahl der Bescheide 2
Anzahl der Erwiderungen 2
Erstmalige Übernahme in DPMAregisterEREGT27.05.2011
Tag der (letzten) Aktualisierung in DPMAregisterREGT06.04.2024
(alle Aktualisierungstage einblenden)(alle Aktualisierungstage ausblenden)27.05.2011; 03.06.2011; 19.07.2011; 22.10.2011; 08.11.2011; 29.11.2011; 07.12.2011; 13.01.2012; 14.01.2012; 21.01.2012; 24.01.2012; 25.01.2012; 26.01.2012; 27.01.2012; 01.02.2012; 11.02.2012; 15.02.2012; 24.03.2012; 07.04.2012; 03.05.2012; 21.06.2012; 26.06.2012; 08.11.2012; 27.12.2012; 01.02.2013; 06.04.2013; 09.04.2013; 01.03.2014; 08.04.2014; 12.04.2014; 14.05.2014; 19.02.2015; 07.04.2015; 24.01.2016; 07.04.2016; 07.04.2017; 07.04.2018; 08.05.2018; 03.04.2019; 30.03.2020; 01.04.2021; 30.03.2022; 24.10.2022; 28.03.2023; 06.04.2024
Verfahrensdaten
Nr. Verfahrensart Verfahrensstand Verfahrensstandstag Verfahrensstandstag aufsteigend sortiert Erstveröffentlichungstag Alle Details anzeigen
1 Vorverfahren Die Anmeldung befindet sich in der Vorprüfung 06.03.2008   Details anzeigen
2 Prüfungsverfahren Prüfungsantrag wirksam gestellt 14.03.2008   Details anzeigen
3 Vorverfahren Das Vorverfahren ist abgeschlossen 20.06.2008   Details anzeigen
4 Publikationen Offenlegungsschrift 10.09.2009 10.09.2009 Details anzeigen
5 Prüfungsverfahren Prüfungsbescheid 12.04.2011   Details anzeigen
6 Prüfungsverfahren Erwiderung auf Prüfungsbescheid 23.01.2012   Details anzeigen
7 Prüfungsverfahren Erteilungsbeschluss durch Prüfungsstelle/Patentabteilung 26.01.2012   Details anzeigen
8 Publikationen Patentschrift 21.06.2012 21.06.2012 Details anzeigen
9 Prüfungsverfahren Patent rechtskräftig erteilt 22.09.2012 27.12.2012 Details anzeigen
10 Vertreteränderung Änderung des Vertreters 12.05.2014   Details anzeigen