Stammdaten| INID | Kriterium | Feld | Inhalt |
|---|
| Schutzrechtsart | SART | Patent |
| Status | ST | Nicht anhängig/erloschen |
| 21 | Aktenzeichen DE | DAKZ | 198 31 622.4 |
| 54 | Bezeichnung/Titel | TI | Verfahren zur Charakterisierung von mechanischen Spannungszuständen in flächenhaften Materialien und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
| 51 | IPC-Hauptklasse | ICM
(ICMV) | G01B 7/16 (2006.01) |
| 51 | IPC-Nebenklasse(n) | ICS
(ICSV) | G01B 11/06 (2006.01) |
| 22 | Anmeldetag DE | DAT | 15.07.1998 |
| 43 | Offenlegungstag | OT | 24.02.2000 |
| Veröffentlichungstag der Erteilung | PET | 18.03.2004 |
| 71/73 | Anmelder/Inhaber | INH | Technische Universität Dresden, 01069 Dresden, DE |
| 72 | Erfinder | IN | Lampenscherf, Stefan, 01277 Dresden, DE; Mertig, Michael, 01189 Dresden, DE; Pompe, Wolfgang, 01665 Gauernitz, DE; Tuckermann, Martin, 01279 Dresden, DE; Gerbatsch, Andre, 01474 Schönfeld-Weißig, DE; Reich, Günter, 09599 Freiberg, DE |
| 74 | Vertreter | VTR | Kailuweit & Uhlemann Patentanwälte Partnerschaft mbB, 01187 Dresden, DE |
| 10 | Veröffentlichte DE-Dokumente | DEPN | Originaldokument:
DE000019831622A1
Recherchierbarer Text:
DE000019831622A1
Originaldokument:
DE000019831622B4
Recherchierbarer Text:
DE000019831622B4 |
| Zustellanschrift | | Kailuweit & Uhlemann Patentanwälte Partnerschaft mbB, 01013 Dresden, DE |
| Zuständige Patentabteilung | | 56 |
| 57 | Zusammenfassung | AB | Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Charakterisierung mechanischer Spannungszustände in flächenhaften Materialien, die auf chemische oder physikalische Einflüsse mit einer Volumenänderung reagieren. Dies wird durch ein Verformungsmeßverfahren unter Verwendung einer kapazitiven Meßanordnung, die aus einer elektrisch leitenden oder metallisierten Substratplatte und einer Grundplatte mit einer oder mehreren Elektroden besteht, gelöst. Bei diesem Meßverfahren wird die Substratplatte (1) frei gelagert. Die zu untersuchende flächenhafte Probe (P) wird auf der Substratplatte (1) so befestigt, daß sich Eigenspannungen der Meßprobe (P) auf die Substratplatte (1) übertragen und zu deren Deformation führen. Bei konstanten oder zeitlich veränderlichen physikalischen und/oder chemischen Prozeßparametern wird die durch die Deformation der Substratplatte (1) hervorgerufene Kapazitätsänderung der Elektroden der Grundplatte (2) bezüglich der Substratplatte (1) gemessen. Aus der Kapazitätsänderung, den elastischen Konstanten und der Geometrie der Substratplatte (1) sowie der Schichtdicke der Probe (P) wird deren mechanische Spannung bestimmt. |
| 56 | Entgegenhaltungen/Zitate | CT |
DE000002831938C2 (DE 28 31 938 C2)
DE000004231205A1 (DE 42 31 205 A1)
DD000000253292A1 (DD 2 53 292 A1)
US000005118955A (US 51 18 955 A)
US000004991964A (US 49 91 964)
US000002933665A (US 29 33 665)
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| 56 | Entgegenhaltungen/Zitate NPL | CTNP | Das Leder, 48, 1997, S.134-141;
Journal of Materials Science, 27, 1992, S.472 bis 478;
Journal of the American Ceramic Society, 76, 1993, S. 2769-2777 |
| 43 | Erstveröffentlichungstag | EVT | 24.02.2000 |
| Anzahl der Bescheide | | 2 |
| Anzahl der Erwiderungen | | 3 |
| Erstmalige Übernahme in DPMAregister | EREGT | 25.05.2011 |
| Tag der (letzten) Aktualisierung in DPMAregister | REGT | 19.01.2016
(alle Aktualisierungstage einblenden)(alle Aktualisierungstage ausblenden)25.05.2011; 31.05.2011; 31.05.2011; 21.01.2013; 19.01.2016 |
