Registerauskunft Patent

Aktenzeichen DE: 103 42 175.0 (Status: nicht anhängig/erloschen, Stand am: 19. April 2024)

Stammdaten
INIDKriteriumFeldInhalt
SchutzrechtsartSARTPatent
StatusSTNicht anhängig/erloschen
21Aktenzeichen DEDAKZ103 42 175.0
54Bezeichnung/TitelTIVorrichtung und Verfahren zur Messung der Oberflächentopographie und Wellenaberrationen eines Linsensystems, insbesondere eines Auges
51IPC-HauptklasseICM
(ICMV)		 G01B 11/30 (2006.01)
51IPC-Nebenklasse(n)ICS
(ICSV)		 G01B 9/02 (2006.01), A61B 3/107 (2006.01)
22Anmeldetag DEDAT12.09.2003
43OffenlegungstagOT14.04.2005
71/73Anmelder/InhaberINHOptocraft GmbH, 91058 Erlangen, DE
72ErfinderINBeyerlein, Mathias, Dr., 91052 Erlangen, DE; Pfund, Johannes, Dr., 90425 Nürnberg, DE
74VertreterVTRPatentanwälte Tergau & Pohl, 90482 Nürnberg, DE
10Veröffentlichte DE-DokumenteDEPNOriginaldokument: DE000010342175A1
Recherchierbarer Text: DE000010342175A1
Zustellanschrift Patentanwälte Tergau & Pohl, 90482 Nürnberg, DE
Zuständige Patentabteilung 52
57ZusammenfassungABEs werden eine Vorrichtung (1) und ein Verfahren zur Messung der Oberflächentopographie und Wellenaberration eines Linsensystems (2) angegeben. Die Vorrichtung (1) ist mit einem ersten Messsystem (8), das eine Lichtquelle (10) zur Ausstrahlung eines ersten Lichtbündels (11) einer ersten Wellenlänge (λ1) sowie einen Detektor (20, 48) zur Aufnahme des an dem Linsensystem (2) reflektierten ersten Lichtbündels (11') umfasst, sowie mit einem zweiten Messsystem (9), das eine Lichtquelle (21) zur Ausstrahlung eines zweiten Lichtbündels (22) einer zweiten Wellenlänge (λ2) sowie einen Detektor (24, 48) zur Aufnahme des durch das Linsensystem (2) transmittierten zweiten Lichtbündels (22') umfasst, ausgerüstet. Dabei ist in einem gemeinsamen Strahlengangbereich (14) des ersten Messsystems (8) und des zweiten Messsystems (9) ein diffraktives optisches Element (18) angeordnet, welches den jeweiligen Wellenfrontverlauf (34) des ersten Lichtbündels (11, 11') und des zweiten Lichtbündels (22, 22') wellenlängenselektiv anpasst.
56Entgegenhaltungen/ZitateCT US020030169403A1 (US 2003/1 69 403 A1)
US020030038921A1 (US 2003/0 38 921 A1)
US020020163623A1 (US 2002/1 63 623 A1)
US020010016695A1 (US 2001/0 16 695 A1)
43ErstveröffentlichungstagEVT14.04.2005
Anzahl der Bescheide 1
Anzahl der Erwiderungen 0
Erstmalige Übernahme in DPMAregisterEREGT26.05.2011
Tag der (letzten) Aktualisierung in DPMAregisterREGT22.01.2016
(alle Aktualisierungstage einblenden)(alle Aktualisierungstage ausblenden)26.05.2011; 30.06.2011; 01.07.2011; 01.05.2012; 26.01.2013; 22.01.2016
Verfahrensdaten
Nr. Verfahrensart Verfahrensstand Verfahrensstandstag Verfahrensstandstag aufsteigend sortiert Erstveröffentlichungstag Alle Details anzeigen
1 Vorverfahren Die Anmeldung befindet sich in der Vorprüfung 12.09.2003   Details anzeigen
2 Prüfungsverfahren Prüfungsantrag wirksam gestellt 06.11.2003   Details anzeigen
3 Vorverfahren Das Vorverfahren ist abgeschlossen 08.12.2003   Details anzeigen
4 Publikationen Offenlegungsschrift 14.04.2005 14.04.2005 Details anzeigen
5 Klassifikationsänderung Änderung der IPC-Hauptklasse 17.10.2005   Details anzeigen
6 Prüfungsverfahren Zurückweisungsbeschluss im Prüfungs-/Schutzzertifikats-/Eintragungsverfahren 03.03.2011   Details anzeigen
7 Prüfungsverfahren Rechtskraft des Zurückweisungsbeschlusses 04.04.2011 30.06.2011 Details anzeigen