Registerauskunft Patent

Aktenzeichen DE: 102 08 965.5 (Status: nicht anhängig/erloschen, Stand am: 9. Mai 2024)

Stammdaten
INIDKriteriumFeldInhalt
SchutzrechtsartSARTPatent
StatusSTNicht anhängig/erloschen
21Aktenzeichen DEDAKZ102 08 965.5
54Bezeichnung/TitelTILeistungshalbleiterbauelement für Sperrspannungen über 2000V
51IPC-HauptklasseICM
(ICMV)
H01L 29/868 (2006.01)
22Anmeldetag DEDAT28.02.2002
43OffenlegungstagOT18.09.2003
Veröffentlichungstag der ErteilungPET21.06.2007
71/73Anmelder/InhaberINHSEMIKRON Elektronik GmbH & Co. KG, 90431 Nürnberg, DE
72ErfinderINLutz, Josef, Dr., 09126 Chemnitz, DE; Domeij, Martin, Sollentuna, SE
10Veröffentlichte DE-DokumenteDEPNOriginaldokument: DE000010208965A1
Recherchierbarer Text: DE000010208965A1
Originaldokument: DE000010208965B4
Recherchierbarer Text: DE000010208965B4
Zustellanschrift SEMIKRON Elektronik GmbH & Co. KG, 90431 Nürnberg, DE
Zuständige Patentabteilung 33
57ZusammenfassungABEs wird ein Leistungshalbleiterbauelement auf Siliziumbasis für Spannungsklassen über 2000 V, speziell eine Leistungsdiode vorgestellt, das eine erhöhte Widerstandsfähigkeit gegenüber Belastungen durch dynamischen Avalanche aufweist. Dies wird im Vergleich zum Stand der Technik erreicht durch eine Verbreiterung der Basis W↓b↓. Die dazu notwendige Dimensionierungsregel ist nur abhängig von der auftretenden Spannungsspitze während des Kommutierungsvorgangs.
56Entgegenhaltungen/ZitateCT DE000019709652A1 (DE 197 09 652 A1)
DE000010049354A1 (DE 100 49 354 A1)
DE000004337329A1 (DE 43 37 329 A1)
DE000004305040A1 (DE 43 05 040 A1)
DE000009405072U1 (DE 94 05 072 U1)
EP000000689251A1 (EP 06 89 251 A1)
56Entgegenhaltungen/Zitate NPLCTNPJ.OETJEN et al.: Current filamentation in bipolar power devices during dynamic avalanche breakdown, in: Solid State Electronics 44 (2000) S. 117-123
43ErstveröffentlichungstagEVT18.09.2003
Anzahl der Bescheide 0
Anzahl der Erwiderungen 0
Erstmalige Übernahme in DPMAregisterEREGT26.05.2011
Tag der (letzten) Aktualisierung in DPMAregisterREGT12.02.2022
(alle Aktualisierungstage einblenden)(alle Aktualisierungstage ausblenden)26.05.2011; 23.01.2013; 09.05.2013; 30.07.2013; 20.01.2016; 12.02.2022
Verfahrensdaten
Nr. Verfahrensart Verfahrensstand Verfahrensstandstag Verfahrensstandstag aufsteigend sortiert Erstveröffentlichungstag Alle Details anzeigen
1 Vorverfahren Die Anmeldung befindet sich in der Vorprüfung 28.02.2002   Details anzeigen
2 Prüfungsverfahren Prüfungsantrag wirksam gestellt 14.03.2002   Details anzeigen
3 Vorverfahren Das Vorverfahren ist abgeschlossen 07.06.2002   Details anzeigen
4 Publikationen Offenlegungsschrift 18.09.2003 18.09.2003 Details anzeigen
5 Anmelder-/Inhaberänderung Änderung des Anmelders/Inhabers 08.08.2005 13.10.2005 Details anzeigen
6 Klassifikationsänderung Änderung der IPC-Hauptklasse 17.10.2005   Details anzeigen
7 Prüfungsverfahren Erteilungsbeschluss durch Prüfungsstelle/Patentabteilung 19.02.2007   Details anzeigen
8 Publikationen Patentschrift 21.06.2007 21.06.2007 Details anzeigen
9 Einspruchsverfahren Gegen das Patent wurde Einspruch erhoben 21.09.2007 13.12.2007 Details anzeigen
10 Einspruchsverfahren Widerruf durch Beschluss der Patentabteilung 25.03.2008   Details anzeigen
11 Einspruchsverfahren Rechtskraft des Beschlusses der Patentabteilung/des BPatG über den Widerruf 26.04.2008 31.07.2008 Details anzeigen