Registerauskunft Patent

Aktenzeichen DE: 10 2004 029 944.7 (Status: nicht anhängig/erloschen, Stand am: 14. Mai 2024)

Stammdaten
INIDKriteriumFeldInhalt
SchutzrechtsartSARTPatent
StatusSTNicht anhängig/erloschen
21Aktenzeichen DEDAKZ10 2004 029 944.7
54Bezeichnung/TitelTIVerfahren zur Ermittlung ESD-relevanter Schaltungsteile in einer Schaltung
51IPC-HauptklasseICM
(ICMV)
H01L 21/66 (2006.01)
51IPC-Nebenklasse(n)ICS
(ICSV)
H01L 23/60 (2006.01), G06F 30/00 (2020.01)
22Anmeldetag DEDAT21.06.2004
43OffenlegungstagOT05.01.2006
Veröffentlichungstag der ErteilungPET15.02.2018
71/73Anmelder/InhaberINHInfineon Technologies AG, 81669 München, DE
72ErfinderINGroos, Gerhard, Dr., 80636 München, DE
10Veröffentlichte DE-DokumenteDEPNOriginaldokument: DE102004029944A1
Recherchierbarer Text: DE102004029944A1
Originaldokument: DE102004029944B4
Recherchierbarer Text: DE102004029944B4
Zustellanschrift Intellectual Property Infineon Technologies AG, 80506 München, DE
Zuständige Patentabteilung 33
57ZusammenfassungABVerfahren zur Ermittlung relevanter Schaltungsteile in einer Schaltung bei einer Belastung mit einem zeitlich veränderlichen Signal, wobei die Schaltung eine Anzahl miteinander verschalteter Schaltungskomponenten aufweist, die jeweils mittels Anschlüssen zwischen wenigstens zwei Schaltungsknoten verschaltet sind, wobei wenigstens einigen der Schaltungsteile jeweils wenigstens ein Relevanzkriterium zugeordnet ist und wobei die Schaltung wenigstens einen ersten und einen zweiten Anschluss aufweist zum Einkoppeln des zeitlich veränderlichen Signals, wobei das Verfahren folgende Verfahrensschritte umfasst:$A - Bereitstellen eines computerimplementierten Modells der Schaltung, bei dem die Schaltungskomponenten wenigstens teilweise durch äquivalente Gleichsignalmodelle repräsentiert sind, deren Parameter wenigstens einen der folgenden Parameter des zeitlich veränderlichen Signals berücksichtigen: Steilheit einer steigenden Flanke, Dauer eines pulsförmigen Signalanteils, Steilheit einer fallenden Flanke,$A - Durchführen einer Gleichsignalanalyse für die Schaltung anhand des bereitgestellten Modells bei Berücksichtigung eines an den wenigstens zwei Anschlüssen anliegenden Gleichsignals, das von wenigstens einem der folgenden Parameter des zeitlich veränderlichen Signals abhängig ist: Amplitude, Steilheit einer steigenden Flanke, Dauer eines pulsförmigen Signalanteils, Steilheit einer fallenden Flanke, und Ermitteln solcher Schaltungsteile als relevant, bei denen aufgrund des an ...
56Entgegenhaltungen/ZitateCT US000006553542B2 (US 6 553 542 B2)
US000006493850B2 (US 6 493 850 B2)
US000006591233B1 (US 6 591 233 B1)
US000007243317B2 (US 7 243 317 B2)
US000007024646B2 (US 7 024 646 B2)
US000007302378B2 (US 7 302 378 B2)
56Entgegenhaltungen/Zitate NPLCTNPHarald Gossner: ESD protection for the deep sub micron regime – a challenge for design methodology. In: Proceedings of the 17th International Conference on VLSI Design, 01/2004, 809-818.;
M. Baird et al.: Verify ESD: A Tool for Efficient Circuit Level ESD Simulations of Mixed-Signal ICs. In: IEEE EOS/ESD Symposium Proceedings, 09/2000, 465-469.
43ErstveröffentlichungstagEVT05.01.2006
Anzahl der Bescheide 3
Anzahl der Erwiderungen 3
Erstmalige Übernahme in DPMAregisterEREGT27.05.2011
Tag der (letzten) Aktualisierung in DPMAregisterREGT28.03.2024
(alle Aktualisierungstage einblenden)(alle Aktualisierungstage ausblenden)27.05.2011; 09.07.2011; 17.07.2011; 10.09.2011; 18.11.2011; 30.05.2012; 02.06.2012; 21.06.2012; 27.06.2012; 10.07.2012; 25.08.2012; 01.11.2012; 06.11.2012; 07.11.2012; 08.01.2013; 23.01.2013; 21.02.2013; 22.02.2013; 04.05.2013; 07.05.2013; 09.05.2013; 16.05.2013; 17.05.2013; 09.07.2013; 06.08.2013; 30.08.2013; 23.02.2014; 26.02.2014; 08.07.2014; 29.08.2014; 06.05.2015; 02.09.2015; 22.01.2016; 17.08.2016; 31.08.2016; 10.09.2016; 30.08.2017; 27.10.2017; 28.10.2017; 12.01.2018; 15.02.2018; 08.09.2018; 15.12.2018; 04.01.2019; 11.01.2019; 04.09.2019; 09.07.2020; 27.08.2020; 23.07.2021; 01.09.2021; 01.09.2022; 20.02.2024; 28.03.2024
Verfahrensdaten
Nr. Verfahrensart Verfahrensstand Verfahrensstandstag Verfahrensstandstag aufsteigend sortiert Erstveröffentlichungstag Alle Details anzeigen
1 Vorverfahren Die Anmeldung befindet sich in der Vorprüfung 21.06.2004   Details anzeigen
2 Prüfungsverfahren Prüfungsantrag wirksam gestellt 21.06.2004   Details anzeigen
3 Vorverfahren Das Vorverfahren ist abgeschlossen 16.12.2004   Details anzeigen
4 Klassifikationsänderung Änderung der IPC-Hauptklasse 17.10.2005   Details anzeigen
5 Publikationen Offenlegungsschrift 05.01.2006 05.01.2006 Details anzeigen
6 Prüfungsverfahren Erwiderung auf Prüfungsbescheid 26.05.2009   Details anzeigen
7 Prüfungsverfahren Prüfungsbescheid 26.06.2012   Details anzeigen
8 Prüfungsverfahren Erwiderung auf Prüfungsbescheid 02.05.2013   Details anzeigen
9 Prüfungsverfahren Prüfungsbescheid 16.08.2016   Details anzeigen
10 Prüfungsverfahren Erwiderung auf Prüfungsbescheid 25.10.2017   Details anzeigen
11 Prüfungsverfahren Erteilungsbeschluss durch Prüfungsstelle/Patentabteilung 27.10.2017   Details anzeigen
12 Publikationen Patentschrift 15.02.2018 15.02.2018 Details anzeigen
13 Prüfungsverfahren Patent rechtskräftig erteilt 16.11.2018 24.01.2019 Details anzeigen
14 Vertreteränderung Änderung des Vertreters 10.01.2019   Details anzeigen
15 Verwaltungsverfahren Die Anmeldung gilt als zurückgenommen wegen Nichtzahlung der Jahresgebühr/das Schutzrecht ist wegen Nichtzahlung der Jahresgebühr erloschen 03.01.2024 28.03.2024 Details anzeigen